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HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）—-熒光光譜儀器的領(lǐng)dao者，提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。
熒光壽命光譜是研究樣品受激后輻射出的紫外，可見，或近紅外熒光與時(shí)間的變化。可利用熒光的衰減測定皮秒到秒，或更長的壽命范圍。
HORIBA Scientific提供的研究級(jí)熒光壽命光譜儀有模塊化或緊湊型設(shè)計(jì)，可按應(yīng)用需求定制光譜儀。
Fluorocube將xin的迷你化光源和檢測技術(shù)與成熟的TCSPC電子系統(tǒng)，及自動(dòng)化操作結(jié)合起來，提供樶靈活和界面友好的光子計(jì)數(shù)壽命系統(tǒng)。
可選附件
• 激發(fā)/發(fā)射單色儀：Seya-Namioka型，波長可調(diào)（200~800 nm），與樣品倉蓋之間集成安全鎖，同步手動(dòng)調(diào)節(jié)狹縫寬度（1~32nm）
• 四位光束控制反射鏡（可選）
• 偏振器
• 紅外擴(kuò)展 PPD 模塊 (例如PPD-850C 或 PPD-900C)
• NIR檢測器（~1700nm）
• 固體樣品支架
• 低溫附件
• 低熒光背景濾光片
技術(shù)參數(shù)：
• 壽命范圍從皮秒至秒
• 基于濾光片實(shí)現(xiàn)波長選擇(可選激發(fā)/發(fā)射單色儀)
• 外循環(huán)液體控溫樣品架
• PPD 光子檢測模塊（標(biāo)配）
• 檢測器范圍185nm-650nm，可升級(jí)至850nm（與樣品倉蓋之間配有安全鎖）
• Fluorocub計(jì)時(shí)電子裝置，皮秒到秒壽命范圍（依賴于激發(fā)光源）
• 綜合分析軟件
• 可選偏振器測量自旋相關(guān)時(shí)間
• NanoLED和SpectraLED二極管激發(fā)光源覆蓋全波長范圍
HORIBA熒光壽命測試系統(tǒng)-FluoroCube-JY特點(diǎn)
★ 靈敏度高：單光子計(jì)數(shù)技術(shù)
★ 準(zhǔn)確性好：計(jì)時(shí)電路無需校正
★ 靈活性強(qiáng)：可選多種光源，壽命響應(yīng)范圍寬
★ 模塊化：可以根據(jù)需要定制模塊配件
★ 方便性：全電腦控制，易于操作
