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日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點(diǎn)介紹
點(diǎn)擊次數(shù):1973 更新時(shí)間:2021-03-11

日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述

AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面,標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能(RealTune® II),即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí),也能快速獲得準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。

RealTune®II SIS Q CL

  • 圖標(biāo)說明
  • * RealTune是日立高新技術(shù)公司在日本的注冊(cè)商標(biāo)

日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點(diǎn)
1. RealTune® II 樶的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能

  • *的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能!
    RealTune® II可預(yù)測并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù),可以根據(jù)樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況,高效率、高精度地調(diào)整成合適的測量條件。
  • 通過新增加的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能(RealTune® II),可實(shí)現(xiàn)一鍵(One Click)測量。
    原來需要專業(yè)操作才能完成的測量,現(xiàn)在即便是新手也可以輕松勝任。
  • 也可用于高難度樣品。

【實(shí)例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體(壁虎膠帶)
【實(shí)例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】

以往的方法這些樣品需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行精細(xì)的調(diào)整,操作難度很高,并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。

新處理方法

自動(dòng)設(shè)置成合適的條件,可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的情況下進(jìn)行精zhun測量。

【實(shí)例2】用于有機(jī)薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜(并五苯多結(jié)晶薄膜)
【實(shí)例2】用于有機(jī)薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜(并五苯多結(jié)晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學(xué)北村研究室】

以往的方法這種樣品,表面容易損壞,易產(chǎn)生皺痕、臺(tái)階的輪廓也不明顯。

新處理方法

自動(dòng)設(shè)置成合適的條件,穩(wěn)定地測量分子級(jí)別上的臺(tái)階結(jié)構(gòu)。

従來方式と新アルゴリズムの比較畫像

2. 全新的圖標(biāo)用戶界面(Graphical Use Interface)
簡單的菜單設(shè)置

  • 明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的圖片信息,無論是初學(xué)者還是有經(jīng)驗(yàn)的操作員,都能夠輕松掌控!
  • 可通過選項(xiàng)卡在測量及分析之間相互切換,畫面簡潔明了。

選項(xiàng)、導(dǎo)航

測量畫面、分析畫面

3. 3D覆蓋功能

能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示,并能構(gòu)畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

MOS晶體管的形狀圖像與SNDM圖像的3D重合

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能

配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。

凹凸分析、剖面輪廓分析功能

5. 小型化設(shè)計(jì)

輕便的小型化外形,適合各種場地?cái)[放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

小型化設(shè)計(jì)

能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示,并能構(gòu)畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

MOS晶體管的形狀圖像與SNDM圖像的3D重合